01:00影响评分 1010光刻胶烘烤工艺影响DUV光刻随机误差研究研究分析了PAB和PEB工艺参数对DUV浸没式光刻随机误差的影响。文章指出光刻胶烘烤过程存在化学图像平滑与保真度之间的权衡。利多优化烘烤工艺有助于提升先进制程的良率与工艺稳定性。PhotoresistDUV Photoresist技术动态展开影响评分10 / 100,低影响