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半导体测试转向实时监控

传统半导体测试依赖延迟报告，导致良率波动和参数漂移等盲点。文章主张通过实时智能将测试环节从被动黑箱转变为主动监控环境。这一技术趋势主要影响制造运营效率，而非直接改变供需格局。