Orum开发HBM测试插座精度达±1.0μm
Orum Material开发出首款可接触HBM微凸块的超细测试插座,精度达±1.0μm。针对HBM4 65μm节距及1.6万+凸块结构,该技术利用MEMS悬臂梁解决传统探针无法接触的难题。
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该技术旨在提升HBM良率,目前处于原型验证阶段,对现货价格影响中性。
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Orum Material开发出首款可接触HBM微凸块的超细测试插座,精度达±1.0μm。针对HBM4 65μm节距及1.6万+凸块结构,该技术利用MEMS悬臂梁解决传统探针无法接触的难题。
该技术旨在提升HBM良率,目前处于原型验证阶段,对现货价格影响中性。
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