CEA-Leti将FRAM工艺缩至22nm
CEA-Leti研究人员利用3D电容架构将FRAM工艺缩至22nm,实现0.0028μm²超小单元。通过垂直集成HZO薄膜,该技术匹配10nm SRAM密度,并计划集成至22nm FDSOI平台。
利多
FRAM技术发展,但短期对现货价格无直接影响。
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- 10 / 100, low impact
CEA-Leti研究人员利用3D电容架构将FRAM工艺缩至22nm,实现0.0028μm²超小单元。通过垂直集成HZO薄膜,该技术匹配10nm SRAM密度,并计划集成至22nm FDSOI平台。
FRAM技术发展,但短期对现货价格无直接影响。
CEA-Leti与弗劳恩霍夫IPMS在FAMES试验线内首次完成铁电存储器晶圆交换,验证了污染控制协议。此举旨在建立欧洲共享的先进嵌入式非易失性存储器材料测试平台。
此为长期研发里程碑,对当前元器件供应、价格及交易决策无直接影响。
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