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台积电联合研发GAA晶体管原子级量测技术

发生了什么

康奈尔大学、ASM与台积电研究人员发表论文,阐述利用电子叠层衍射技术对GAA晶体管进行三维原子级应变与粗糙度量测。该研究旨在解决纳米级三维架构的工艺控制需求,属于基础研发里程碑。利空/利空/关注: 中性,此为长期工艺研发进展,对当前组件供应、价格及交易决策无直接影响。

影响与信号

低影响影响力评分:8/100

受影响器件与厂商

GAAFET
TSMCASM
metrologyR&D

来源与时间

来源:Semiconductor Engineering · 2026/2/23 · 查看原始来源

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