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TSMC简化5nm以下节点工艺,目标间距35nm

TSMC专利披露一项采用单次EUV曝光与角度蚀刻实现35nm以下间距的工艺简化技术,旨在减少5nm及以下节点的制造步骤。此举为应对先进制程微缩挑战,提升良率与成本效率的研发进展。利多/利空/关注: 中性,此为长期技术演进,对当前组件供应与价格无直接影响。

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来源:SemiWiki · 2026/2/22 · 查看原始来源

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