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QRT获政府半导体测试设备开发奖项

发生了什么

QRT于10月28日在京畿道水原会展中心举行的International Research Industry Convention 2026上获得韩国科学和信息通信技术部长官表彰。该公司因开发专用半导体可靠性测试设备而获认可,该设备使韩国对外国供应商的依赖度降低了70%。QRT已将用于太空、航空、国防、自动驾驶和人工智能应用半导体辐射引起软错误的单粒子效应(SEE)测试设备商用化,并开发了用于通信应用的射频高温工作寿命(RF-HTOL)测试系统;其用于中子和重离子测试的SEE设备确立了可靠性验证基础,RF-HTOL系统也使公司能够评估高功率和高频半导体的工作寿命。QRT表示,今年上半年已向一家欧洲国防客户交付RF-HTOL设备,并在下半年继续获得全球客户的设备订单。

影响与信号

低影响影响力评分:10/100

受影响器件与厂商

semiconductor reliability testing equipmentsingle-event effect (SEE) testing equipmentradio-frequency high-temperature operating life (RF-HTOL) testing system
QRT
awardMinisterial CommendationMinistry of Science and ICTreliability testingSEERF-HTOL

来源与时间

来源:The Elec · 2026/10/28 · 查看原始来源

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