Teradyne发布Magnum E2存储测试系统，面向先进DRAM与高速NAND闪存，支持LPDDR6、DDR6、GDDR7及NAND接口，最多64测试工位、24.5K高速I/O引脚

Teradyne发布Magnum E2高速存储测试系统，面向先进DRAM与高速NAND闪存接口。该系统基于Teradyne的Near-DUT Test（NDT）架构，适用于LPDDR6、DDR6、GDDR7及NAND闪存接口，支持高速NRZ、PAM3和PAM4信号，具备最多64个测试工位和24.5K高速I/O引脚，支持生产与工程配置，可在同一软硬件平台上覆盖从资格认证到大批量制造。公司称其设计契合AI与高性能计算带来的测试需求；Memory Test部门总裁Ben Han表示，随着行业向先进DRAM和企业级SSD用高速NAND闪存迁移，Magnum E2旨在消除信号完整性与吞吐量之间的取舍。原文未说明价格或供应影响。

来源：Electronics Weekly · 2026/10/7 · 查看原始来源