威尔逊调查显示首次流片成功率从十年间平均约30%降至最新调查的5%，验证成功标准需重新理解

Siemens再次赞助由Wilson主导的关于行业（功能）验证现状的调查，Siemens验证首席科学家Harry Foster总结了报告要点。调查显示首次流片成功率出现显著变化：在至少十年间平均约30%的设计声称首次流片成功，而最新一次调查中该比例已降至5%。分析认为硅片改流（respin）成本高昂并可能错失市场窗口，Foster将首次流片成功率下降的背后因素归纳为5个主要原因，包括基于加速器的设计规模增长（AI/GPU与CPU集群设计中的一致性问题）、软件与硬件日益紧密耦合、验证语言组合的变化（SystemVerilog与C/C++、Python并驾齐驱，PSS快速增长）、以及固件/安全/安保相关改流显著增长；他并不认为验证语言组合是低成功率的原因，而更可能是验证团队应对复杂性的信号。

来源：SemiWiki · 2026/10/7 · 查看原始来源