NuAxi半导体贸易情报
低影响影响力评分：15/100
k-Space发布XRF薄膜计量新工具
k-Space Associates推出kSA XRF X射线荧光薄膜测量工具，用于测量光学方法难以处理的超薄材料。该工具面向半导体和光电器件研发与制造中的精密计量环节。中性：此为利基市场设备发布，预计短期内对电子元件供需及价格无直接影响。
Semiconductor Manufacturing Equipment
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来源：Semiconductor Today · 2023/1/17 · 查看原始来源
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实时定价、供应信号与 AI 分析，为半导体贸易商而生