吕贝克大学发布SPARC预硅片分析框架

吕贝克大学研究人员发布SPARC框架，用于预硅片电源侧信道泄漏的自动化根本原因分析。该工具利用宏单元级信息流跟踪增强阴影逻辑，以标记开关活动并定位泄漏源。关注。此技术进展属于研发范畴，目前对现货市场价格及供应链无直接冲击。

来源：Semiconductor Engineering · 2026/7/28 · 查看原始来源