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低影响影响力评分:10/100
中芯N+3密度落后38%,金属间距优于英特尔
SemiAnalysis拆解华为麒麟9030发现,中芯国际N+3工艺局部金属间距达32.5nm,优于英特尔18A量产间距36nm。该芯片采用DUV光刻及多重曝光技术,通过双鳍、接触孔直接位于有源栅极等手段提升密度,但密度仍比英特尔18A低38%。利空:技术指标落后,短期无供需影响。
Kirin 9030
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2026/6/16
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