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量子传感系统用于<5nm芯片失效分析

量子传感系统用于<5nm芯片失效分析。该系统能以<1μm分辨率非破坏性地检测芯片短路、漏电及开路。关注:量子传感技术虽在半导体失效分析领域取得新进展,但尚未对主流芯片供需或价格产生直接影响。

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来源:SemiWiki · 2026/5/13 · 查看原始来源

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