NuAxi半导体贸易情报
低影响影响力评分：10/100
Ancora双面散热GaN FET通过20万小时寿命测试
Ancora Semiconductor双面散热GaN FET通过DMTBF测试，验证了其产品200,000小时的长寿命可靠性。该技术已应用于与台达及ADATA合作开发的XPG FUSION 1600W钛金电源。中性：此为技术里程碑，对当前GaN元件供需及价格无直接影响。
GaN FETPower Supply Components
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来源：Semiconductor Today · 2024/2/28 · 查看原始来源
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