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JEDEC发布GaN/SiC功率器件开关损耗测试新标
JEDEC协会正式发布针对GaN与SiC功率器件输出电容迟滞损耗的测试标准JEP200。该标准由拥有超80家成员公司的JC-70宽禁带半导体委员会联合制定。中性：此为行业技术标准更新，不直接改变供需或价格，但长期看有助于产品性能评估与市场规范化。
GaN Power DevicesSiC Power Devices
standardizationtestingwide-bandgap
来源：Semiconductor Today · 2024/9/12 · 查看原始来源
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