SEC开发HBM X射线检测工具，2026年展示

SEC公司完成HBM产线自动X射线检测系统开发，可识别3-5微米堆叠缺陷，并适用于玻璃基板工艺。该设备将于2026年SSPA展会首次亮相，本月启动内部Alpha测试。中性：此为长期研发进展，对当前元件供应、价格及交易决策无直接影响。

来源：The Elec · 2026/4/1 · 查看原始来源