NuAxi半导体贸易情报
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CFET背供架构建模面临RLCK提取挑战
文章探讨了CFET和背供架构下的接口电阻建模及RLCK提取挑战，旨在提升下一代设备工程的可靠性与能效。关注技术演进趋势。
CFETBackside Power Delivery (BPD)
r&dtechnologycfet
来源：Semiconductor Engineering · 2026/3/25 · 查看原始来源
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