NuAxi半导体贸易情报
低影响影响力评分:10/100
爱德万发布功率芯片KGD测试单元
爱德万测试发布集成KGD测试单元,结合CREA MT系列功率测试机与HA1100探针台,旨在提升宽禁带功率器件的裸片测试良率。该产品针对电动汽车、可再生能源等领域的关键功率半导体测试瓶颈。中性:此为测试设备技术升级,不直接影响功率半导体元件的现货供应、需求或价格。
Power SemiconductorsWide-Bandgap (WBG) Devices
test-equipmentyield-improvementKGD
来源:Semiconductor Today · 2024/12/9 · 查看原始来源
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